О чём рассказывается в презентации:
Презентация посвящена проектированию контрольно-измерительных материалов (КИМ) для объективной оценки образовательных результатов. В ней рассматриваются методологические основы и алгоритмы разработки КИМ, их функции и важные характеристики, такие как валидность, надежность и объективность. Также акцентируется внимание на необходимости интеграции формативных и итоговых методов контроля для повышения качества оценивания.


