О чём рассказывается в презентации:
Презентация посвящена рентгеноспектральному анализу, который является ключевым методом для определения элементного состава материалов. В ней рассматриваются физические принципы взаимодействия электронного пучка с веществом и возможности идентификации элементов от бериллия до урана. Также затрагиваются современные технологии, такие как EDX и WDX спектрометры, которые обеспечивают высокую точность и локальность анализа, что делает их незаменимыми в материаловедении и геологии.
Оглавление
Рентгеноспектральный анализ
Рентгеноспектральный микроанализ базируется на генерации характеристического излучения
Элементный состав образцов определяется от бериллия до урана
Локальность анализа достигает субмикронных значений
EDX и WDX спектрометры различаются по принципу детектирования сигнала
Математические коррекции обеспечивают точность количественного анализа на уровне 1–2 процентов
Современные WDS-системы позволяют обнаруживать концентрации на уровне 100 ppm
Визуализация распределения элементов повышает информативность исследований
Более 85 процентов лабораторий используют комбинированные системы SEM-EDS-WDS
Геология использует метод для изучения петрологических и термобарометрических процессов
Материаловедение применяет микроанализ для контроля фазового состава и качества полупроводников
Археометрия опирается на неразрушающий анализ артефактов для установления их происхождения
Автоматизация и машинное обучение ускоряют обработку спектральных данных
Метод Монте-Карло расширяет возможности количественного анализа нанообъектов
Рентгеноспектральный микроанализ остается «золотым стандартом» локального химического анализа
Итоги анализа
Спасибо за внимание
