О чём рассказывается в презентации:
Презентация посвящена сравнительному анализу контактных и бесконтактных профилографов, актуальных в метрологическом контроле микрогеометрии поверхности в 2026 году. Рассматриваются преимущества и ограничения каждого метода, включая влияние физических свойств образцов на выбор технологии. Также обсуждаются новые достижения в области автоматизации и интеграции ИИ, что значительно улучшает качество и скорость контроля.


