О чём рассказывается в презентации:
Презентация посвящена сравнительному анализу контактных и бесконтактных профилографов, актуальных в метрологическом контроле микрогеометрии поверхности в 2026 году. Рассматриваются преимущества и ограничения каждого метода, включая влияние физических свойств образцов на выбор технологии. Также обсуждаются новые достижения в области автоматизации и интеграции ИИ, что значительно улучшает качество и скорость контроля.
Оглавление
Сравнительная характеристика контактных и бесконтактных профилографов
Профилометрия как основа метрологического контроля качества
Контактные методы опираются на прямую тактильную регистрацию
Бесконтактные системы используют фотонные принципы анализа
Технические характеристики методов: сравнительный анализ
Применение ИИ повышает достоверность оптических данных
Экономическая эффективность: снижение издержек на контроль
Геометрия образцов и ограничения доступа
Гибридные комплексы как вершина современной метрологии
Соответствие нормативной базе: стандарты ISO 25178
Выводы: выбор метода в зависимости от специализации
Итоговый выбор метода контроля
Спасибо за внимание
