Для приведенного ряда измерений (н равно30), используя критерий «трех сигм», проверить, являются ли выделенные значения промахами для указанного варианта.

Приборами разного класса точности замерены значения сопротивления ряда резисторов: ▪ кл. 2,0 – 240 Ом, 243 Ом, 238 Ом, 242 Ом; ▪ кл. 2,5 – 235 Ом, 245 Ом, 238 Ом, 245 Ом.

По данным выборки построить контрольные карты средних X и размахов R. Для построения карт выборку разбить на двадцать подгрупп объемом пять значений параметра в каждой подгруппе. Провести анализ полученных контрольных карт и сделать выводы.

Так как погрешности аргументов содержат и систематическую, и случайную составляющие, то для нахождения общей погрешности измерения необходимо сначала просуммировать отдельно эти погрешности по группам.